超聲電聲法Zeta電位儀是顆粒表面處理的重要手段

　　超聲電聲法Zeta電位儀主要通過(guò)測定顆粒的Zeta電位，求出等電點(diǎn)，是認識顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。該儀器采用質(zhì)量交換法測定Zeta電位。所謂質(zhì)量交換型Zeta電位測定儀實(shí)際上仍是根據電泳速度測定Zeta電位，但不是逐個(gè)觀(guān)察顆粒的運動(dòng)速度，而是把速度轉化為質(zhì)量，將定向運動(dòng)的顆粒收集在電極上，根據電極的增重計算Zeta電位。收集顆粒的電極就是可以自由裝卸的樣品池的底部，它的增重是通過(guò)稱(chēng)量樣品池實(shí)驗前與實(shí)驗后的重量求得的。由于電極在收集相反電荷顆粒的同時(shí)，還要排出同體積的液體介質(zhì)，求得的增重實(shí)際上是沉積在電極上的顆粒重量減去同體積液體的重量。

　　超聲電聲法Zeta電位儀測量粒徑分布：

　　1.測量粒徑前，需查知樣品分散劑的粘度、折光指數（Refractive Index）

　　2.用卷紙輕輕點(diǎn)拭樣品池外側水滴，切勿用力擦拭，以防將樣品池劃傷，如發(fā)現樣品池有劃紋，需更換。

　　3.手盡量避免觸摸樣品池下端，否則會(huì )影響光路。

　　4.一定要去除樣品池內的氣泡。

　　5.實(shí)驗室提供的樣品池為聚苯乙烯材質(zhì)，不可用于測量有機分散體系。

　　6.實(shí)驗室提供的樣品池，測量溫度不可高于50攝氏度。

　　7.如需測量有機分散體系或高于50攝氏度，請自帶石英比色皿。

　　8.使用濾紙過(guò)濾時(shí)，舍去過(guò)濾后的樣品，以防濾紙上雜質(zhì)進(jìn)入樣品池。