高濃度納米粒度儀及zeta電位分析儀

Zeta-APS 高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀

典型應用：

綜合穩定水泥漿，陶瓷，化學(xué)機械研磨，煤漿，涂料，化妝品，環(huán)境保護禪選法礦物富集，食品工業(yè)，乳膠，微乳，混合分散體系，納米粉，無(wú)水體系，油漆成像材料。

主要特點(diǎn)：

1）能分析多種分散物的混合體；

2）無(wú)需依賴(lài)Double Layer模式，精確地判定等電點(diǎn)；

3）可適用于高導電(highly conducting)體系；

4）可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾；

5）可精確測量無(wú)水體系；

6）Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù)，無(wú)需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量；

7）樣品的高濃度可達60%(體積比)，被測樣品無(wú)需稀釋?zhuān)瑢饪s膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量；

8）具有自動(dòng)電位滴定功能；

優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢：

1)被測樣品無(wú)需稀釋?zhuān)?/span>

2)排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾；

3)不需定標；

4)能分析多種分散物的混合體；

5)高精度；

6)所檢側粒徑范圍款從5 nm至1000um

Zeta-APS 高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀

優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢：

1)無(wú)需定標；

2)能測更寬的粒徑范圍；

3)無(wú)需依賴(lài)Double Layer模式

4)無(wú)需依賴(lài)( electric surface properties)電表面特牲；

5)零表面電荷條件下也可測量粒徑；

6)可適用于無(wú)水體系；

7)可適用于高導電(highly conducting)體系；

優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢：

1)無(wú)需稀釋?zhuān)毯狭扛哌_60%；

2)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾；

3)高精度(±0.1mv)；

4)低表面電荷(可低至0. 1mv)；

5)electrosmotic flow不影響測量；

6)對流(convection)不影響測量；

7)可精確測量無(wú)水體系；

技術(shù)參數：

1)所檢測粒徑范圍寬：從5 nm至1000um；

2)可測量參數：粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點(diǎn)IEP、E5A、電導率、PH、溫度、聲衰減；

3)Zeta電位測量范圍：+/-200 mv，低表面電荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv);

4)零表面電荷條件下也可測量粒徑；

5)允許樣品濃度：0.1-60%(體積百分數)；

6)樣品體積：30-230ml；

7)PH范圍：0~14;

8)電導率范圍：0~10 s/m